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模组寿命测试系统
一、平铺式模组寿命测试系统平铺式模组寿命是通过亮度计来采集发光模组的亮度变化,从而计算lifetime 的系统。平铺式模组寿命通过把亮度计搭载再由X、Y、Z 三个自动运动直线模组构成的运动平台
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荧光寿命测试系统堀场HORIBA分子荧光 适用于寿命衰减
堀场HORIBA分子荧光FluoroCube / UltraFast适用于寿命衰减项目,参考多项行业标准0。可以检测NATA等样品。可应用于蛋白行业领域。 • 激发/发射单色仪
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德国徕卡 即时产生寿命成像 STELLARIS 8 FALCON
(寿命):ns。 由荷兰阿姆斯特丹癌症研究所的Kees Jalink和Bram van den Broek提供。用凝血酶活化肽刺激后的钙振荡。 单个细胞中的响应被记录为寿命变化。 视频以4 pfs速率
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LIFA荧光寿命系统附件
LIFA荧光寿命系统附件LIFA是适用于荧光寿命显微成像(FLIM)。该设备可以利用频域技术在任何宽场显微荧光成像系统获得寿命变化相关图像。系统包含TRiCAM M可调制型像增强CCD相机,可调
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DynaMyc 荧光寿命成像显微系统
HORIBA科学仪器部是荧光光谱仪的领导者,推出的DynaMyc是基于滤光片式,全自动共焦显微镜系统,可在微观尺寸下测试荧光寿命和强度。
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FluoroCube / UltraFast荧光寿命测试系统
荧光寿命光谱是研究样品受激后辐射出的紫外,可见,或近红外荧光与时间的变化。可利用荧光的衰减测定皮秒到秒,或更长的寿命范围。
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超长的使用寿命PerkinElmer PinAAcle 500 火焰原子吸收
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OLED/QLED发光器件寿命测试系统
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分子荧光堀场HORIBADeltaPro/DeltaFlex 高精度荧光寿命测试系统 荧光寿命:时域荧光或频域荧光
堀场HORIBADeltaPro/DeltaFlex 高精度荧光寿命测试系统用于测定时域荧光,频域荧光,符合行业标准0。适用荧光寿命项目。 HORIBA Scientific(Jobin Yvon
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伍丰7725i进样阀 使用寿命较长
的降低了瞬时压力冲击对系统的干扰。 ★较宽的30度端口,易于与接头连接。 ★单点压力调节,减少了转子密封垫和定子间的摩擦,延长使用寿命。 ★内置位置传感开关为色谱仪提供了可再现的开始信号
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